開關柜局部放電測試儀簡析局部放電試驗的干擾類型和途徑

　　干擾將會降低局部放電試驗的檢測靈敏度,試驗時,應使干擾水平抑制到低水平.干擾類型通常有:電源干擾、接地系統(tǒng)干擾、電磁輻射干擾、試驗設備各元件的放電干擾及各類接觸干擾.這些干擾及其進入試驗回路的途徑.

　　a.電源干擾.檢測儀及試驗變壓器所用的電源是與低壓配電網(wǎng)相連的,配電網(wǎng)內(nèi)的各種高頻信號均能直接產(chǎn)生干擾.因此,通常采用屏蔽式電源隔離變壓器及低通濾波器抑制,效果甚好.

　　b.接地干擾.試驗回路接地方式不當,例如兩點及以上接地的接地網(wǎng)系統(tǒng)中,各種高頻信號會經(jīng)接地線耦合到試驗回路產(chǎn)生干擾.這種干擾一般與試驗電壓高低無關.試驗回路采用一點接地,可降低這種干擾.

　　c.電磁輻射干擾.鄰近高壓帶電設備或高壓輸電線路,無線電發(fā)射器及其它諸如可控硅、電刷等試驗回路以外的高頻信號,均會以電磁感應、電磁輻射的形式經(jīng)雜散電容或雜散電感耦合到試驗回路,它的波形往往與試品內(nèi)部放電不易區(qū)分,對現(xiàn)場測量影響較大.其特點是與試驗電壓無關.消除這種干擾的根本對策是將試品置于屏蔽良好的試驗室.采用平衡法、對稱法和模擬天線法的測試回路,也能抑制輻射干擾.

　　d.懸浮電位放電干擾.鄰近試驗回路的不接地金屬物產(chǎn)生的感應懸浮電位放電,也是常見的一種干擾.其特點是隨試驗電壓升高而增大,但其波形一般較易識別.消除的對策一是搬離,二是接地.

　　e.電暈放電和各連接處接觸放電的干擾.電暈放電產(chǎn)生于試驗回路處于高電位的導電部分,例如試品的法蘭、金屬蓋帽、試驗變壓器、耦合電容器端部及高壓引線等部分.試驗回路中由于各連接處接觸不良也會產(chǎn)生接觸放電干擾.這兩種干擾的特性是隨試驗電壓的升高而增大.消除這種干擾是在高壓端部采用防暈措施(如防暈環(huán)等),高壓引線采用無暈的導電圓管,以及保證各連接部位的良好接觸等.